| УДК 347.77 ББК 67.404.3 Исследование патентной чистоты объектов. Учебник для студентов и слушателей РГИИС – М.: Российский государственный институт интеллектуальной собственности. (РГИИС), 2006, - 278 с. ISBN 5-89508-0 35 - 9 Автор: кандидат технических наук, доцент В.В. Шведова Рецензенты: Профессор кафедрыкМТ-11 МГТУ им. Н.Э. Баумана, доктор технических наук Е.А. Деулин Профессор, доктор экономических наук Д.И. Кокурин Патентный поверенный РФ, рег. №346, кандидат биологических наук В.П. Банзакова Патентный поверенный РФ, рег. №756, отдел патентно–лицензионных работ ОАО «ЛУКОЙЛ» И.В. Рыбакова Начальник патентного отдела ФГУП «НПЦ АП им. Академика Н.А. Пилюгина» В.А.Шкода Учебник «Исследование патентной чистоты объектов» предназначен для студентов и слушателей всех форм обучения Российского государственного института интеллектуальной собственности, специализирующихся в области создания, охраны и коммерческого использования объектов интеллектуальной собственности. Учебник посвящен рассмотрению вопросов, связанных с обеспечением и исследованием патентной чистоты объектов: основных понятий, общей методики экспертизы объектов на патентную чистоту, теории эквивалентов, конкретных примеров; оформления результатов проведенного исследования на патентную чистоту. Пособие содержит теоретический и практический материал, который поможет слушателям разобраться в достаточно сложных вопросах, относящихся к патентной чистоте. Оно может быть использовано патентными работниками предприятий и патентными поверенными, проводящими такого рода исследования. При составлении учебника были учтены мнения и использованы работы специалистов в данной области, приведённые в списке литературы. Одобрено Методическим советом Российского государственного института интеллектуальной собственности Протокол № 12 от 23 декабря 2005 г. © В.В. Шведова, 2006 г. © РГИИС, 2006 г. ISBN 5-89508-0 35 - 9 СОДЕРЖАНИЕ Введение ...................................................................................................................................................................................... 6 Раздел I. Патентная чистота объекта. Общие положения и основные понятия .............. 9 Раздел II. Общая методика экспертизы объектов на патентную чистоту ........................ 19 II.1. Оценка условий и выбор оптимальной методики экспертизы ................................................................ 22 II.2. Изучение особенностей патентного законодательства стран, в отношении которых проводится проверка патентной чистоты .......................................................................................................................................... 27 II.3. Выбор технических решений и других элементов, подлежащих проверке на патентную чистоту 46 II.4 Выбор комплектующих (покупных) изделий и полуфабрикатов, подлежащих проверке на патентную чистоту ........................................................................................................................................................................................ 56 II.5 Выбор технической документации для проведения экспертизы на патентную чистоту ......... 59 II.6 Определение классификационных рубрик ........................................................................................................... 61 II.7 Выбор патентной документации, по которой будет проводиться исследование патентной чистоты объекта ......................................................................................................................................................................................... 66 II.8 Формирование и согласование программы экспертизы объекта на патентную чистоту ........ 79 II.9 Поиск, систематизация и отбор патентной документации для дальнейшего анализа ............. 83 Раздел III. Детальный анализ патентной документации .................................................................... 90 Раздел IV. Теория эквивалентов .......................................................................................................................... 118 Раздел V. Рекомендации о возможности реализации объекта .................................................. 131 Раздел VI. Особенности проведения исследования патентной чистоты объектов в отношении промышленных образцов и товарных знаков ...................................................................................... 145 VI.1 Промышленные образцы ............................................................................................................................................ 145 VI.2 Товарные знаки, знаки обслуживания, наименования мест прохождения товаров, фирменные наименования ......................................................................................................................................................................... 160 Раздел VII. Объекты авторского права, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты ...................................................................................................................................................... 182 VII.1 Программы для ЭВМ и базы данных ................................................................................................................... 189 VII.2 Некоторые другие объекты интеллектуальной собственности, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты .............................................................................................................................. 202 Раздел VIII. Документальное оформление результатов исследования объектов на патентную чистоту .................................................................................................................................................................................. 212 Контрольные вопросы по теме ........................................................................................................................... 237 Список литературы ...................................................................................................................................................... 240 ПРЕДМЕТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ………………………………………………………………………………….244 Приложение 1 Патентное законодательство россии ......................................................................... 262 ПРИЛОЖЕНИЕ 2 ИНТЕРНЕТ - АДРЕСА ИНФОРМАЦИОННЫХ ЦЕНТРОВ РОССИИ, ПАТЕНТНЫХ ВЕДОМСТВ И ЗАРУБЕЖНЫХ ИНФОРМАЦИОННЫХФИРМ…………………………………………………………………………………………….……………… 278 СОКРАЩЕНИЯ АОИС – Африканская Организация интеллектуальной собственности АРОПС – Африканская региональная организация промышленной собственности БД – База данных ВОИС – Всемирная Организация интеллектуальной собственности ВПТБ – Всероссийская патентно-техническая библиотека ВТО – Всемирная торговая организация ГК РФ – Гражданский Кодекс Российской Федерации ГОСТ – Государственный стандарт ЕАПК – Евразийская патентная конвенция ЕАПВ – Евразийское патентное ведомство ЕПВ – Европейское патентное ведомство ЕПК – Европейская патентная конвенция ИМС – Интегральная микросхема ИНИЦ – Информационно-издательский центр Роспатента КоАП – Кодекс об административных правонарушениях МКТУ – Международная классификация товаров и услуг МПК – Международная патентная классификация МКПО – Международная классификация промышленных образцов НИР – Научно-исследовательская работа НКИ – Национальная классификация изобретений ОКР – Опытно-конструкторская работа ПК – Парижская конвенция РСТ – Договор о патентной кооперации Роспатент – Федеральная служба по интеллектуальной собственности, патентам и товарным знакам ПМ – Полезная модель ПО – Промышленный образец СПА – Справочно-поисковый аппарат ТЗ – Товарный знак ТРИПС – Соглашение по торговым аспектам прав интеллектуальной собственности в рамках ВТО УК РФ – Уголовный кодекс Российской Федерации ФОИС – Федеральный орган исполнительной власти по интеллектуальной собственности ЭВМ – Электронная вычислительная машина |